如果制程很穩定的則將形成一種固定形狀稱為分布，分布有下列三種不同的表征特點即：位置，分布，形狀。如下圖所示：
以下是某個參數的CPK分析結果：
特點是：分布過寬，也即比較離散，在數據特征上看就是標準偏差值，即STDEV較大，所以直接導致的結果就是整體CPK會較低，在這個案例中，整體CPK值為：0.719；
組內CPK為0.696。
我們來查看其控制圖，每組樣本數為5，從圖中可以看出來，工序是比較穩定的，雖然工序能力比較低。
原始數據如下：
5.3795.6515.8315.2425.690
5.5985.1275.2465.7435.230
5.7975.6305.4225.4755.002
5.4505.2305.2815.1405.829
5.4235.2785.4455.1935.406
5.3925.2475.8175.5405.197
5.3675.4305.3675.7085.665
5.8925.4225.5315.1605.344
5.5565.2795.4345.4725.825
5.4575.5065.4165.1985.547
5.6095.0825.2935.1275.493
5.9325.5215.6225.9525.461
5.0945.9885.6585.6105.378
5.4165.3845.6905.4125.543
5.4675.6495.6545.0025.446
5.7015.5915.4865.4515.498
5.4965.5855.8035.6935.437
5.9415.6685.7575.2995.587
5.6575.1035.2965.8345.692
5.1835.5825.3315.7035.652